Quantitative Texture Analysis with Hard (100 keV) Synchrotron X-Rays

摘要:

文章预览

信息:

期刊:

编辑:

Dong Nyung Lee

页数:

167-172

引用:

L. Wcislak et al., "Quantitative Texture Analysis with Hard (100 keV) Synchrotron X-Rays", Materials Science Forum, Vols. 408-412, pp. 167-172, 2002

上线时间:

August 2002

输出:

价格:

$38.00

从Crossref获取数据。
这可能需要一些时间来加载。